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英国isocom光耦技术支持讲解检测光耦最给力的3种方法
光耦学习园地 | 2012-09-27 21:09:15    阅读:1025   发布文章

         市场瞬息万变光耦缺货停产事件层出不断,如东芝今年停产的TLP181,TLP521-1,TLP521-2,TLP521-4,经常买到假货,判断光耦的好坏,可在电路测量其内部二极管和三极管的正反向电阻来确定。最给力的检测方法有以下三种。

1. 比较法
    拆下怀疑有问题的光耦,用万用表测量其内部二极管、三极管的正反向电阻值,用其它好的光耦对应脚的测量值进行比较,若阻值相差较大,则说明光耦已损坏。
2. 数字万用表检测法 
    检测时将光耦内接二极管的+端{1}脚和-端{2}脚分别插入数字万用表的Hfe的c、e插孔内,此时数字万用表应置于NPN挡;然后将光耦内接光电三极管c极{5}脚接指针式万用表的黑表笔,e极{4}脚接红表笔,并将指针式万用表拨在R×1k挡。这样就能通过指针式万用表指针的偏转角度——实际上是光电流的变化,来判断光耦的情况。指针向右偏转角度越大,说明光耦的光电转换效率越高,即传输比越高,反之越低;若表针不动,则说明光耦已损坏。
 3. 光电效应判断法 
    将万用表置于R×1k电阻挡,两表笔分别接在光耦的输出端{4}、{5}脚;然后用一节1.5V的电池与一只50~100Ω的电阻串接后,电池的正极端接光耦的{1}脚,负极端碰接{2}脚,或者正极端碰接{1}脚,负极端接{2}脚,这时观察接在输出端万用表的指针偏转情况。如果指针摆动,说明光耦是好的,如果不摆动,则说明光耦已损坏。万用表指针摆动偏转角度越大,表明光电转换灵敏度越高。

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